产品用途:实现各种封装、各种规格的芯片、在不同环境下的烧录测试,老化测试
适用封装:QFN LGA CQFP QFP BGA LCC PGA 等
引脚间距 0.35~2.54 mm
规格尺寸
外型尺寸: 25X25~80x80(可根据芯片实际尺寸相应调整)
引脚间距(mm): 0.35
芯片尺寸: 根据各种不同尺寸的芯片均都可定制座子
特点:底部引出引脚跟距实际被测芯片封装排列,单独定制
老化温度
正常高低温范围 : -40 ℃ ~ +125 ℃
可做军工三温 :低温55 ℃,常温25 ℃,高温165 ℃
可根据客户实际要求,最高可实现老化测试温度达220 ℃
产品特点
1. 用手动翻盖结构,操作灵敏,方便快捷简单;
2. 有翻盖结构旋钮加压机构,使PIN针偏多时。下能轻松压紧测试;
3. 特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏;
4. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形;
5. 成本低效率高,兼容有球无球测试,IC限位框采用模具一体成型,可根据IC选择不同大小限位框进行更换,实现不同大小的IC能够通用;
6. 探针:进口探针,铍铜镀金,探针可更换;
7.上表面探针露出高度误差1.2MM+-0.1;
8.下表面探针露出高度误差1.2MM+-0.1;
6. 探针在测试座内活动顺畅区间0.2-0.3mm;
10.座头表面硬质阳极氧化,保证美观,防止短路,耐磨损;
测试寿命长,寿命高达10万次 !!!
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我司拥有完整的标准生产体系、拥有一支精良的技术团队、优秀的生产研发队伍、高尚的客户服务理念。生产效率快,受到诸多客户的一致好评!品质保
证,值得信赖 !!!
一、
1.
二、测试方法
(1) 把IC按A1角方向平放入SOCKET内,把座子放进高温区,就行高温测试!
三、维修与保养
在使用本产品过程中如发现不能测试或测试性能不稳定,建议用以下方法解决:
1.用气枪或防静电毛刷把 SOCKET 座里面杂质清除,使其接触良好;
2. 用无水酒精清洗SOCKET,把顶端的附着杂质清洗干净,使其接触良好;
5.严禁用洗板水等有机溶剂浸泡、清洗,以免损坏 SOCKET 内部结构