QFN40-0.5翻盖弹片单层板烧录座/QFN芯片测试座
产品简介
1、产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
2、适用封装:QFN40引脚间距0.5mm
3、测试座:QFN40-0.5
4、特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN-40-0.5
引脚间距(mm):0.5
脚位:40
适配芯片尺寸:6*6mm
产品参数 /Parameter
| 产品名称 | QFN40-0.5翻盖弹片老化座 |
| 材质 | PEI |
| 导电体 | 弹片 |
| 触点压力 | 30-50g Per Pin |
| 接触阻抗 | 30mΩ or less at 10mA and 20mV (Initial) |
| 耐电压 | 1MinuteATAC700 |
| 绝缘电阻 | 1000 MΩ Min,At DC 500V |
| 额定电流 | 1 A |
| 机械寿命 | 150,00 ~ 20,000 Times (Mechanical) |
| 工作温度 | From -40℃ to + 155℃ |
产品型号 /Model
| 产品编号 | 适用封装 | 产品名称 | 尺寸 |
| 70B0000002B | QFN | QFN40-0.5翻盖弹片老化座 | 6*6 |
